壞扇區

NAND 快閃記憶體中存在出廠時的壞區塊，這與使用壽命期間新增的壞區塊一樣，均屬技術原因所致。這兩者均不構成品質問題。
然而，對於使用壽命期間出現的壞區塊，韌體對這些事件的正確處理至關重要，以避免遺失這些區塊中既有的資料以及新寫入的資料。