随着NAND闪存的集成尺寸不断缩小,单个存储单元能存储的比特数越来越多,每一代新闪存对闪存控制器提出的纠错要求也随之提高。纠错已成为闪存控制器最重要的任务之一。多年来,基于Bose-Chaudhuri-Hocquenghem(BCH)码的纠错方案一直是主流选择。 然而,随着高密度闪存的出现,闪存的错误率持续上升,控制器必须提升其纠错能力。考虑到成本、面积和功耗的限制,这一任务变得越来越困难。
目录
纠错码的发展历程
缩写与概念
Bose-Chaudhuri-Hocquenghem 码
低密度奇偶校验码
广义串联码

Downloads with a symbol are only available after loginOnly available after login