NAND闪存耐用性测试

闪存存储单元的损耗取决于已进行的编程和擦除循环次数，以及这些循环进行的速度。

在闪存介质的典型使用寿命内，这些循环大多均匀分布在至少三年的时间内。 两个循环之间的间隔时间足以让隧道氧化层中的电荷脱陷，从而使闪存达到其规定的循环次数。如果循环时间异常短（特别是在资格测试中），则必须在两个循环之间留出足够的时间让单元恢复，和/或必须提高温度，以达到规定的使用寿命。