不良セクタ

NANDフラッシュにおける製造時の不良ブロックの存在は、使用期間中に発生する追加の不良ブロックと同様に、技術的な要因によるものです。
いずれも品質上の問題を示すものではありません。しかし、使用期間中に不良ブロックが発生した場合、そのブロックに保存されている既存のデータだけでなく、新しいデータも失わないようにするためには、ファームウェアによるこれらの事象への適切な処理が極めて重要です。