Das Vorhandensein von Factory-Bad-Blocks in NAND-Flash ist ebenso technologiebedingt, wie das Auftreten weiterer Bad-Blocks während der Lebensdauer. Beides stellt kein (negatives) Qualitätsmerkmal dar. Bei dem Auftreten von Grown-Bad-Blocks während der Lebensdauer ist jedoch die korrekte Behandlung dieser Ereignisse durch die Firmware entscheidend, um die neuen Daten wie auch die bereits gespeicherten Daten solcher Blöcke nicht zu verlieren.
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