Application Notes
19/08/2024 2024
Swissbit SSDs als Diagnosegerät für Host-Probleme
Probleme mit der PCIe-Schnittstelle eines Host-Computers oder dessen Stromversorgungen können dazu führen, dass die Host/SSDSchnittstelle eine ordnungsgemäß funktionierende SSD nicht mehr erkennt. Wenn dies passiert, wird diese SSD als „vom Bus gefallen“ beschrieben. Falls eine Swissbit SSD „vom Bus fällt“, kann das Speichermedium als Diagnosegerät verwendet werden, um die Ursache zu bestimmen. Zudem diagnostizieren und berichten Swissbit NVMe-SSDs über jedes einzelne Vorkommnis, ohne dass das Problem repliziert werden muss.
31/10/2023 2023
Signal Over- und Undershooting
Bussysteme wie die SD- und e.MMC-Schnittstelle, SATA oder PCIe bieten verschiedenartige Eigenschaften hinsichtlich Datenübertragungsraten und Konnektivität, unterliegen aber trotz ihrer langjährigen Verbreitung immer wiederkehrenden Herausforderungen beim Leiterplatten-Design. Eine dieser Herausforderungen ist die Signalreflexion, die Auswirkungen auf die Leistung und Zuverlässigkeit des gesamten Systems haben kann. Diese Application Note befasst sich mit Signalreflexionen bei Massenspeicherschnittstellen...
05/04/2023 2023
SSD Partitionierung
Die Partitionierung kann einen großen Einfluß auf die Geschwindigkeit und die Lebensdauer einer SSD haben. Hauptsächlich bei älteren Industrie-Systemen, deren Betriebssysteme noch aus der Zeit vor der Verbreitung von SSDs stammen, tritt dieses Problem häufig auf. In dieser TechNote werden Ursachen und Abhilfemaßnahmen aufgezeigt.
Bei Festplatten gibt es eine feste Zuordnung zwischen logischen und physikalischen Adressen. Bei NAND-Flash können bestehende Daten jedoch nicht einfach überschrieben werden, denn der Bereich...
03/02/2023 2023
SD Memory Card Design-in
Swissbit ist seit vielen Jahren einer der führenden Anbieter von SD-Memory-Karten für den industriellen Einsatz sowie für die Automobilindustrie. Aus dieser Erfahrung ist diese TechNote entstanden.
Der SD Memory Card Design-in-Guide fokussiert sich auf die häufigsten Probleme, die bei der Integration eines SD-Memory-Interfaces auftreten können und soll als Unterstützung für die Vermeidung eben dieser Probleme dienen.
01/03/2022 2022
Power Failure Testing
Ein plötzlicher Stromausfall kann bei Flash-Medien zu verschiedenen Problemen führen, die im schlimmsten Fall einen Totalausfall zur Folge haben. Abhilfe schaffen Speichermedien, die sämtliche Daten im Cache noch auf den Flash schreiben können, zu erkennen am Zusatz PLP (Power Loss Protection).
Doch wie lässt sich im Rahmen der Produktqualifizierung die Robustheit gegen plötzliche Stromausfälle effektiv testen? Unsere neueste TechNote gibt einen detaillierten Einblick und hält zudem eine Anleitung für den Bau einer eigenen Test-Hardware bereit.
25/01/2022 2022
Comparing Specifications
Ob ein Flash-Speichermedium prinzipiell für den beabsichtigten Einsatzzweck geeignet ist, lässt sich vorab anhand des Datenblatts ermitteln. Je nach Hersteller kommen jedoch unterschiedliche Testmethoden zur Anwendung, wodurch die resultierenden Werte nicht immer leicht mit Produkten anderer Hersteller vergleichbar sind.
Die typischen Methoden, Programme und Begriffe, die für solche Messungen verwendet werden, werden in dieser TechNote näher erläutert, um die Charakteristika verschiedener SSDs besser vergleichen und mit dem Einsatzzweck abgleichen zu können.
06/01/2022 2022
Bad Blocks
Das Vorhandensein von Factory-Bad-Blocks in NAND-Flash ist ebenso technologiebedingt, wie das Auftreten weiterer Bad-Blocks während der Lebensdauer. Beides stellt kein (negatives) Qualitätsmerkmal dar.
Bei dem Auftreten von Grown-Bad-Blocks während der Lebensdauer ist jedoch die korrekte Behandlung dieser Ereignisse durch die Firmware entscheidend, um die neuen Daten wie auch die bereits gespeicherten Daten solcher Blöcke nicht zu verlieren.
06/12/2021 2021
Performance tests
Zum Vergleich von Geschwindigkeitsangaben in Datenblättern von NAND-Flash-Speichermedien müssen die Testbedingungen bekannt und identisch sein. Wurde die Messung nicht wiederholt gestartet, oder erstreckte sie sich nicht auf den gesamten logischen Adressraum, so kann die angegebene Geschwindigkeit deutlich über der real erreichbaren Geschwindigkeit liegen.
15/09/2021 2021
Garbage Collection
Im Gegensatz zu Festplatten oder NOR-Flash gibt es bei NAND-Flash keine feste Zuordnung von logischen Speicheradressen zu physikalischen Speicheradressen. Die Zuordnung erfolgt über Mapping-Tabellen, die von der Firmware des Speichermediums verwaltet werden.
27/07/2021 2021
NAND Flash Endurance Testing
Typische Einsatzszenarien für NAND-Flash gehen von einer Nutzungsdauer von 3–5 Jahren aus und teilweise auch deutlich darüber hinaus. Entsprechend wird der einzusetzende Flash-Typ (SLC, pSLC, MLC, TLC, QLC) ausgewählt, der die nötige „Endurance“, also die Lebensdauer, aufweist.
Soll im Zuge der Qualifikation eines NAND-Flash-Speichers für ein Projekt auch die spezifizierte Endurance überprüft werden, so hat die Alterungsgeschwindigkeit einen erheblichen Einfluss auf das Ergebnis.