Die Schädigung der Speicherzellen von Flash-Speichern hängt sowohl von der Anzahl der erfolgten Programmier- und Löschzyklen ab als auch von der Geschwindigkeit, mit der diese Zyklen erfolgen.

Bei der typischen Lebens- bzw. Einsatzdauer eines Flash-Speichermediums sind die Zyklen überwiegend gleichmäßig über einen Zeitraum von mindestens drei Jahren verteilt. Der Zeitraum zwischen zwei Zyklen ist dann ausreichend für den Abbau der Ladungen im Tunnel-Oxid, und der Flash erreicht seine spezifizierte Anzahl an Zyklen. Bei einer untypisch kurzen Zykluszeit (insbesondere bei Qualifikationstests), muss zwischen den Zyklen ausreichend Zeit für die Erholung der Zellen gegeben sein und/oder die Temperatur erhöht werden, um die spezifizierte Lebensdauer zu erreichen.

Detailierte Beschreibung über NAND flash endurance testing