Technologie-Themen
27/07/2020 2020
Nand flash endurance testing
Typische Einsatzszenarien für NAND-Flash gehen von einer Nutzungsdauer von 3–5 Jahren aus und teilweise auch deutlich darüber hinaus. Entsprechend wird der einzusetzende Flash-Typ (SLC, pSLC, MLC, TLC, QLC) ausgewählt, der die nötige „Endurance“, also die Lebensdauer gemessen in Lösch- und Programmierzyklen, aufweist.
Soll im Zuge der Qualifikation eines NANDFlash-Speichers für ein Projekt auch die spezifizierte „Endurance“ überprüft werden, so hat die Alterungsgeschwindigkeit einen erheblichen Einfluss auf das Ergebnis.
23/12/2019 2019
Bad Blocks
Das Vorhandensein von Factory-Bad-Blocks in NAND-Flash ist ebenso technologiebedingt, wie das Auftreten weiterer Bad-Blocks während der Lebensdauer.
Beides stellt kein (negatives) Qualitätsmerkmal dar. Bei dem Auftreten von Grown-Bad-Blocks während der Lebensdauer ist jedoch die korrekte Behandlung dieser
Ereignisse durch die Firmware entscheidend, um die neuen Daten wie auch die bereits gespeicherten Daten solcher Blöcke nicht zu verlieren.
16/12/2019 2019
Performance tests
Zum Vergleich von Geschwindigkeitsangaben in Datenblättern von NAND-Flash-Speichermedien müssen die Testbedingungen bekannt und identisch sein. Wurde die Messung nicht wiederholt gestartet, oder
erstreckte sie sich nicht auf den gesamten logischen Adressraum, so kann die angegebene Geschwindigkeit deutlich über der real erreichbaren Geschwindigkeit liegen.
18/09/2019 2019
Garbage Collection
Im Gegensatz zu Festplatten oder NOR-Flash gibt es bei NAND-Flash keine feste
Zuordnung von logischen Speicheradressen
zu physikalischen Speicheradressen.
Die Zuordnung erfolgt über Mapping-Tabellen, die von der Firmware des Speichermediums verwaltet werden.
18/09/2019 2019
ENDURANCE - WAF
Wenn es um die Lebensdauer von NAND-Flash-Produkten geht, spielt der Schreibverstärkungsfaktor (WAF) eine wichtige Rolle bei der Maximierung der Lebensdauer eines Produkts.