Funktionen

Swissbit bietet ausgewählte Produkte mit einer speziellen Schutzbeschichtung an. Bei dieser Beschichtung handelt es sich um eine dünne Polyurethanschicht, die vor aggressiven Umweltbedingungen wie Staub, Feuchtigkeit oder korrosiven Gasen schützt.

Verschiedene Einflüsse wie Datenstabilität, Lesestörungs- oder Temperaturbeschränkungen können die Zuverlässigkeit der Daten beeinträchtigen. Bei der neuesten Produktgeneration von Swissbit kommen spezielle Methoden zur Pflege und Aktualisierung der Daten zum Einsatz, um eine höhere Datenintegrität zu erzielen.

Die Produktdesigns entsprechen den neuesten Vorschriften in Bezug auf elektrostatische Entladungen und elektromagnetische Störungen. Swissbit ist bestrebt, mit den eigenen Technologie- und Produktionskapazitäten über diese Grenzen hinauszugehen, zum Beispiel mit der Möglichkeit, System-in-Package (SiP) zu produzieren.

Mit der Lebenszeitüberwachung von Swissbit können Benutzer den Lebenszeitstatus eines Speichers in allen Einzelheiten einsehen und bevorstehende Ausfälle erkennen, um unerwarteten Datenverlust zu vermeiden. Bei dieser Funktion kommen entweder eine erweiterte S.M.A.R.T.-Schnittstelle (Self-Monitoring, Analysis, Reporting Technology) oder anbieterspezifische Befehle zum Abrufen der Flash-Produktinformationen zum Einsatz.

Bei den langlebigen Produktreihen kommen spezielle Bauteile mit einer langfristigen Lieferzusage von bis zu 10 Jahren zum Einsatz. Mit diesen Produkten fallen bei anspruchsvollen Anwendungen mit hohen Neuqualifizierungskosten die geringsten Betriebskosten an.

Der intelligente Stromausfallschutz mit Wiederherstellungsfunktion schützt die Daten bei unerwarteten Stromausfällen. Bei einem unbeabsichtigten Herunterfahren sorgen die Firmware und eine intelligente Hardware-Architektur dafür, dass alle System- und Benutzerdaten im NAND-Speicher gespeichert werden.

Bei vielen industriellen Anwendungen werden die Daten einmal in den NAND-Flash geschrieben und danach nur noch gelesen. Die Firmware kann für solche Fälle optimiert werden, um die größtmögliche Datenstabilität mit möglichst geringen Lesestörungen zu erreichen.

Diese Funktion verwendet eine unterbrechungsfreie Sequenz von Datenlöschbefehlen. Selbst ein Ausschalten kann den Vorgang nicht unterbrechen, da er bei Wiederherstellung der Stromversorgung fortgesetzt wird. Mit der optionalen erweiterten Funktion kann der Kunde die Daten anhand verschiedener Standards wie DoD, NSA, IREC usw. bereinigen. Der Bereinigungsalgorithmus kann mit einem Softwarebefehl oder über eine Hardware-PIN gestartet werden.

Hohe Widerstandsfähigkeit ist eines der Merkmale, die wir am meisten anstreben. Das Design, der Zusammenbau und die Verwendung ausgewählter Materialien sorgen für eine extrem solide Konstruktion, was durch umfangreiche Tests bestätigt wurde.

Über den Sensor kann die Host-Hardware bzw. Host-Software die Temperatur des Speichergeräts überwachen, um die Datenzuverlässigkeit in der Umgebung der Zielanwendung zu verbessern.

Mit dem TRIM-Befehl kann das Betriebssystem die SSD darüber informieren, welche Datenblöcke nicht mehr in Gebrauch sind und intern gelöscht werden können, was die Systemleistung bei den folgenden Schreibzugriffen erhöht. Mit TRIM-Support kann Datenmüll, der andernfalls zukünftige Schreibvorgänge auf die betroffenen Blöcke verlangsamen würde, im Voraus gelöscht werden.

Der Schreibverstärkungsfaktor (Write Amplification Factor, WAF) für MLC-Produkte wird durch die Kombination aus einer seitenbasierten Verwaltung der Firmware-Blöcke, einer leistungsstarken Kartenarchitektur und entsprechenden Konfigurationseinstellungen reduziert.

Durch eine ausgefeilte Verteilung der Schreibzugriffe und Verwaltung fehlerhafter Blöcke wird eine sparsame und gleichmäßige Verwendung der Flash-Zellen sichergestellt, um die Lebensdauer des Geräts zu verlängern.

Die eingebetteten Arbeits- und Datenspeicher von Swissbit sind für den zuverlässigen Betrieb in einem großen Betriebstemperaturbereich ausgelegt und zugelassen. Die Produkte werden bei den Temperaturgrenzwerten geprüft und mit einem Burn-in-Funktionstest (Test During Burn In – TDBI) im Voraus belastet.