CFast Cards™
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F-600 / F-66 / F-60
- Kleinster herausnehmbarer Formfaktor für SATA-SSD
- Typen mit SLC, pSLC und MLC
- Hotplug wird unterstützt, vollständige Stromausfallsicherung
- Hohe IOPS, geringe Abnutzung verlängert die Lebensdauer
- F-60 durabit™, F-66 everbit™
- Datenpflegemanagement und S.M.A.R.T-Support
- Niedriger Energieverbrauch
- Kontrolle der Stückliste und Benachrichtigung bei Produktänderungen
F-56 / F-50
- Kleinster herausnehmbarer Formfaktor für SATA-SSD
- Typen mit pSLC und MLC
- Hotplug wird unterstützt, vollständige Stromausfallsicherung
- Volle Kapazität
- Kontrolle der Stückliste und Benachrichtigung bei Produktänderungen
CFast™-Karten kombinieren den Formfaktor von CompactFlash™-Karten (CF) mit einer Serial-ATA-Schnittstelle (SATA) in einem einzigen Produkt. CFast™-Karten können in Anwendungen, die kleine Formfaktoren, eine hohe Lebensdauer und Widerstandsfähigkeit gegen Stöße, Vibrationen, extreme Temperaturen (-40 °C bis +85 °C) und widrige Umgebungsbedingungen erfordern, sowohl HDDs als auch CompactFlash™-Karten ersetzen. Die CFast™-Karten von Swissbit sind ein robustes und leicht auswechselbares Speichermedium für eingebettete und industrielle Systeme. Das Produktangebot an CFast™-Karten deckt die gesamte Palette von F-600 mit High-Tech-SLC bis hin zu F-50 mit optimiertem Preis-/Leistungsverhältnis ab. Die F-60 mit MLC und die pSLC-Karte F-66 verfügen über den gleichen Funktionsumfang wie das 2,5-Zoll-SSD X60 und eignen sich ideal, wenn es auf hohe Leistung, Langlebigkeit und möglichst niedrige Gesamtbetriebskosten ankommt.
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Name der Produktreihe |
F-66 |
F-600 |
F-60 |
F-50 |
F-56 |
F-240 |
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Schnittstelle Datenübertragungsmodus |
CFast™ 2.0 – SATA III – 6 GBit/s ATA8 |
CFast™ 1.0 – SATA II – 3 GBit/s ATA7 |
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Anschluss |
CFast™ Typ I |
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Äußere Abmessungen |
36,4 x 42,8 x 3,6 mm |
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Flash-Typ |
pSLC Everbit |
SLC |
MLC durabit |
MLC |
pSLC Everbit |
SLC |
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Angebotene Speicherdichten |
4 GB – 120 GB |
8 GB – 64 GB |
8 GB – 240 GB |
8 GB – 256 GB |
4 GB – 128 GB |
2 GB – 64 GB |
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Datenstabilität
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10 Jahre bei Beginn der Lebensdauer 1 Jahr bei Ende der Lebensdauer |
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Lebensdauer |
bis zu 3,8 TBW pro GB Laufwerkskapazität |
bis zu 8,6 TBW pro GB Laufwerkskapazität |
bis zu 0,5 TBW pro GB Laufwerkskapazität |
bis zu 0,05 TBW pro GB Laufwerkskapazität |
bis zu 0,3 TBW pro GB Laufwerkskapazität |
bis zu 1,05 TBW pro GB Laufwerkskapazität |
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Betriebstemperatur |
Kommerziell: 0 °C bis +70 °C Industrie: -40 °C bis +85 °C |
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Lagertemperatur |
-40 °C bis +100°C |
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Leistung Burst-Rate (MBit/s) Sequentielles Lesen (MBit/s) Sequentielles Schreiben (MBit/s) Lesen verteilter Daten, 4 KB (IOPS) Schreiben verteilter Daten, 4 KB (IOPS) |
bis zu 600 bis zu 520 bis zu 415 bis zu 80.000 bis zu 75.000 |
bis zu 600 bis zu 520 bis zu 245 bis zu 76.000 bis zu 54.000 |
bis zu 600 bis zu 520 bis zu 180 bis zu 72.000 bis zu 43.000 |
bis zu 600 bis zu 500 bis zu 330 bis zu 53.000 bis zu 74.000 |
bis zu 600 bis zu 510 bis zu 415 bis zu 32.000 bis zu 66.000 |
bis zu 300 bis zu 120 bis zu 120 bis zu 3.200 bis zu 75 |
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MTBF |
≥ 2.000.000 Stunden |
≥ 2.500.000 Stunden |
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Stöße |
1.500 g, 0,5 ms Dauer, Halbsinuswelle |
500 g, 0,5 ms Dauer, Halbsinuswelle |
1.500 g, 0,5 ms Dauer, Halbsinuswelle |
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Vibrationen |
20 G |
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Luftfeuchtigkeit |
85 % relative Luftfeuchtigkeit bei 85 °C, 1.000 Stunden |
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Spannung |
3,3 V ± 5 % |
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Stromverbrauch |
i. d. R. 380 mA max. 560 mA Leerlauf 108 mA DevSlp 35 mA |
i. d. R. 450 mA max. 715 mA Leerlauf 105 mA DevSlp 35 mA |
i. d. R. 400 mA max. 495 mA Leerlauf 110 mA DevSlp 35 mA |
i. d. R. 290 mA max. 420 mA Leerlauf 75 mA DevSlp 35 mA |
i. d. R. 310 mA max. 645 mA Leerlauf 75 mA DevSlp 5 mA |
i. d. R. 140 mA max. 250 mA Leerlauf 55 mA PHYSLP < 20 mA |
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Funktionen und Tools |
pSLC-Flash mit Bewährte Stromausfallsicherung NCQ, TRIM Hochentwickelte Verteilung der Schreibzugriffe und Verwaltung fehlerhafter Blöcke Firmware-Aktualisierung am Einsatzort SBLTM-Tool und SDK für S.M.A.R.T.-basierte Lebenszeitüberwachung |
Bewährte Stromausfallsicherung NCQ, TRIM Hochentwickelte Verteilung der Schreibzugriffe und Verwaltung fehlerhafter Blöcke Firmware-Aktualisierung am Einsatzort SBLTM-Tool und SDK für S.M.A.R.T.-basierte Lebenszeitüberwachung |
Bewährte Stromausfallsicherung NCQ, TRIM Hochentwickelte Verteilung der Schreibzugriffe und Verwaltung fehlerhafter Blöcke Firmware-Aktualisierung am Einsatzort SBLTM-Tool und SDK für S.M.A.R.T.-basierte Lebenszeitüberwachung |
Bewährte Stromausfallsicherung NCQ, TRIM Hochentwickelte Verteilung der Schreibzugriffe und Verwaltung fehlerhafter Blöcke Firmware-Aktualisierung am Einsatzort SBLTM-Tool und SDK für S.M.A.R.T.-basierte Lebenszeitüberwachung |
Bewährte Stromausfallsicherung pSLC-Flash mit NCQ, TRIM Hochentwickelte Verteilung der Schreibzugriffe und Verwaltung fehlerhafter Blöcke Firmware-Aktualisierung am Einsatzort SBLTM-Tool und SDK für S.M.A.R.T.-basierte Lebenszeitüberwachung |
Bewährte Stromausfallsicherung Ausgefeilte Verteilung der Schreibzugriffe und Verwaltung fehlerhafter Blöcke Lesestörungsmanagement TRIM Niedriger Energieverbrauch Sicherheitsfunktionen und SBZoneProtection verfügbar SBLTM-Tool und SDK für S.M.A.R.T.-basierte Lebenszeitüberwachung |
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Teilenummer |
SFCAxxxxHvAAxss-t-dd-rrr-ccc |
SFCAxxxxHvADxss-t-dd-rrr-ccc |
SFCAxxxxHvBVxss-t-dd-rrr-ccc |
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Product Features
Data Care Management
Various effects like data retention, read disturb limits, or temperature can impact data reliability. The latest generation of Swissbit products use special methods to maintain and refresh the data for higher data integrity.
ESD and EMI safe
The product designs are in line with the latest regulations for electrostatic discharge and electromagnetic interference. Swissbit strives to exceed these limits with our own in-house technology and production capabilities, for example with System-in-Package (SiP) competence.
Life time monitoring (LTM)
The Swissbit Life Time Monitoring feature enables users to access the memory device’s detailed Life Time Status and allows prediction of imminent failure, avoiding unexpected data loss. This feature uses an extended S.M.A.R.T. (Self-Monitoring, Analysis and Reporting Technology) interface or vendor-specific commands to retrieve the Flash product information.
Longevity
The longevity product lines use special components with a long-term supply commitment of up to 10 years. These products offer lowest TCO in demanding applications with high requalification cost.
Power fail protection
Intelligent Power Fail Protection and Recovery protects data from unexpected power loss. During an unintentional shutdown, firmware routines and an intelligent hardware architecture ensure that all system and user data will be stored to the NAND.
Shock and vibration
Robustness is one of our key specification targets. The design, assembly and use of selected materials guarantee an extremely solid design which has been validated by extensive testing.
Temperature sensor
The sensor allows the host hardware or software to monitor the memory device temperature to improve data reliability in the target application environment.
Trim support
The TRIM command allows the operating system to inform the SSD which blocks of data are no longer considered in use and can be wiped out internally, which increases system performance in following write accesses. With TRIM Support data scrap can be deleted in advance, which otherwise would slow down future write operations to the involved blocks.
WAF reduction
The WAF (write amplification factor) for MLC-based products is reduced by combining a paged based FW block management with a powerful card architecture and configuration settings.
Wear leveling
Sophisticated Wear Leveling and Bad Block Management ensure that Flash cells are sparingly and equally used in order to prolong life time of the device.
Wide temperature support
Swissbit‘s embedded memory and storage solutions are designed and approved for reliable operation over a wide temperature range. The products are verified at temperature corners and prestressed with a burn-in operating functional test (Test During Burn In – TDBI).