CFast Cards™

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CFast™-Karten kombinieren den Formfaktor von CompactFlash™-Karten (CF) mit einer Serial-ATA-Schnittstelle (SATA) in einem einzigen Produkt. CFast™-Karten können in Anwendungen, die kleine Formfaktoren, eine hohe Lebensdauer und Widerstandsfähigkeit gegen Stöße, Vibrationen, extreme Temperaturen (-40 °C bis +85 °C) und widrige Umgebungsbedingungen erfordern, sowohl HDDs als auch CompactFlash™-Karten ersetzen. Die CFast™-Karten von Swissbit sind ein robustes und leicht auswechselbares Speichermedium für eingebettete und industrielle Systeme. Das Produktangebot an CFast™-Karten deckt die gesamte Palette von F-600 mit High-Tech-SLC bis hin zu F-50 mit optimiertem Preis-/Leistungsverhältnis ab. Die F-60 mit MLC und die pSLC-Karte F-66 verfügen über den gleichen Funktionsumfang wie das 2,5-Zoll-SSD X60 und eignen sich ideal, wenn es auf hohe Leistung, Langlebigkeit und möglichst niedrige Gesamtbetriebskosten ankommt.

Name der Produktreihe

F-66

F-600

F-60

F-50

F-56

F-240

Schnittstelle

Datenübertragungsmodus

CFast™ 2.0 – SATA III – 6 GBit/s

ATA8

CFast™ 1.0 – SATA II – 3 GBit/s

ATA7

Anschluss

CFast™ Typ I

Äußere Abmessungen

36,4 x 42,8 x 3,6 mm

Flash-Typ

pSLC Everbit

SLC

MLC durabit

MLC

pSLC Everbit

SLC

Angebotene Speicherdichten

4 GB – 120 GB

8 GB – 64 GB

8 GB – 240 GB

8 GB – 256 GB

4 GB – 128 GB

2 GB – 64 GB

Datenstabilität

 

10 Jahre bei Beginn der Lebensdauer

1 Jahr bei Ende der Lebensdauer

Lebensdauer
(Enterprise-Workload)

bis zu 3,8 TBW pro GB Laufwerkskapazität

bis zu 8,6 TBW pro GB Laufwerkskapazität

bis zu 0,5 TBW pro GB Laufwerkskapazität

bis zu 0,05 TBW pro GB Laufwerkskapazität

bis zu 0,3 TBW pro GB Laufwerkskapazität

bis zu 1,05 TBW pro GB Laufwerkskapazität

Betriebstemperatur

Kommerziell: 0 °C bis +70 °C

Industrie: -40 °C bis +85 °C

Lagertemperatur

-40 °C bis +100°C

Leistung

Burst-Rate (MBit/s)

Sequentielles Lesen (MBit/s)

Sequentielles Schreiben (MBit/s)

Lesen verteilter Daten, 4 KB (IOPS)

Schreiben verteilter Daten, 4 KB (IOPS)

 

bis zu 600

bis zu 520

bis zu 415

bis zu 80.000

bis zu 75.000

 

bis zu 600

bis zu 520

bis zu 245

bis zu 76.000

bis zu 54.000

 

bis zu 600

bis zu 520

bis zu 180

bis zu 72.000

bis zu 43.000

 

bis zu 600

bis zu 500

bis zu 330

bis zu 53.000

bis zu 74.000

 

bis zu 600

bis zu 510

bis zu 415

bis zu 32.000

bis zu 66.000

 

bis zu 300

bis zu 120

bis zu 120

bis zu 3.200

bis zu 75

MTBF

≥ 2.000.000 Stunden

≥ 2.500.000 Stunden

Stöße

1.500 g, 0,5 ms Dauer, Halbsinuswelle

500 g, 0,5 ms Dauer, Halbsinuswelle

1.500 g, 0,5 ms Dauer, Halbsinuswelle

Vibrationen

20 G

Luftfeuchtigkeit

85 % relative Luftfeuchtigkeit bei 85 °C, 1.000 Stunden

Spannung

3,3 V ± 5 %

Stromverbrauch

i. d. R. 380 mA

max. 560 mA

Leerlauf 108 mA

DevSlp 35 mA

i. d. R. 450 mA

max. 715 mA

Leerlauf 105 mA

DevSlp 35 mA

i. d. R. 400 mA

max. 495 mA

Leerlauf 110 mA

DevSlp 35 mA

i. d. R. 290 mA

max. 420 mA

Leerlauf 75 mA

DevSlp 35 mA

i. d. R. 310 mA

max. 645 mA

Leerlauf 75 mA

DevSlp 5 mA

i. d. R. 140 mA

max. 250 mA

Leerlauf 55 mA

PHYSLP < 20 mA

Funktionen und Tools

pSLC-Flash mit
20.000 PE-Zyklen

Bewährte Stromausfallsicherung

NCQ, TRIM

Hochentwickelte Verteilung der Schreibzugriffe und Verwaltung fehlerhafter Blöcke

Firmware-Aktualisierung am Einsatzort

SBLTM-Tool und SDK für S.M.A.R.T.-basierte Lebenszeitüberwachung

Bewährte Stromausfallsicherung

NCQ, TRIM

Hochentwickelte Verteilung der Schreibzugriffe und Verwaltung fehlerhafter Blöcke

Firmware-Aktualisierung am Einsatzort

SBLTM-Tool und SDK für S.M.A.R.T.-basierte Lebenszeitüberwachung

Bewährte Stromausfallsicherung

NCQ, TRIM

Hochentwickelte Verteilung der Schreibzugriffe und Verwaltung fehlerhafter Blöcke

Firmware-Aktualisierung am Einsatzort

SBLTM-Tool und SDK für S.M.A.R.T.-basierte Lebenszeitüberwachung

Bewährte Stromausfallsicherung

NCQ, TRIM

Hochentwickelte Verteilung der Schreibzugriffe und Verwaltung fehlerhafter Blöcke

Firmware-Aktualisierung am Einsatzort

SBLTM-Tool und SDK für S.M.A.R.T.-basierte Lebenszeitüberwachung

Bewährte Stromausfallsicherung

pSLC-Flash mit
20.000 PE-Zyklen

NCQ, TRIM

Hochentwickelte Verteilung der Schreibzugriffe und Verwaltung fehlerhafter Blöcke

Firmware-Aktualisierung am Einsatzort

SBLTM-Tool und SDK für S.M.A.R.T.-basierte Lebenszeitüberwachung

Bewährte Stromausfallsicherung

Ausgefeilte Verteilung der Schreibzugriffe und Verwaltung fehlerhafter Blöcke

Lesestörungsmanagement

TRIM

Niedriger Energieverbrauch

Sicherheitsfunktionen und SBZoneProtection verfügbar

SBLTM-Tool und SDK für S.M.A.R.T.-basierte Lebenszeitüberwachung

Teilenummer

SFCAxxxxHvAAxss-t-dd-rrr-ccc

SFCAxxxxHvADxss-t-dd-rrr-ccc

SFCAxxxxHvBVxss-t-dd-rrr-ccc

 

Product Features

Data care management
Data Care Management

Various effects like data retention, read disturb limits, or temperature can impact data reliability. The latest generation of Swissbit products use special methods to maintain and refresh the data for higher data integrity.

Electrostatic discharge and electromagnetic interference
ESD and EMI safe

The product designs are in line with the latest regulations for electrostatic discharge and electromagnetic interference. Swissbit strives to exceed these limits with our own in-house technology and production capabilities, for example with System-in-Package (SiP) competence.

Life Time Monitoring (LTM)
Life time monitoring (LTM)

The Swissbit Life Time Monitoring feature enables users to access the memory device’s detailed Life Time Status and allows prediction of imminent failure, avoiding unexpected data loss. This feature uses an extended S.M.A.R.T. (Self-Monitoring, Analysis and Reporting Technology) interface or vendor-specific commands to retrieve the Flash product information.

Longevity
Longevity

The longevity product lines use special components with a long-term supply commitment of up to 10 years. These products offer lowest TCO in demanding applications with high requalification cost.

Power Fail Protection & Recovery
Power fail protection

Intelligent Power Fail Protection and Recovery protects data from unexpected power loss. During an unintentional shutdown, firmware routines and an intelligent hardware architecture ensure that all system and user data will be stored to the NAND.

Shock & Vibration
Shock and vibration

Robustness is one of our key specification targets. The design, assembly and use of selected materials guarantee an extremely solid design which has been validated by extensive testing.

Temperature sensor
Temperature sensor

The sensor allows the host hardware or software to monitor the memory device temperature to improve data reliability in the target application environment.

TRIM support
Trim support

The TRIM command allows the operating system to inform the SSD which blocks of data are no longer considered in use and can be wiped out internally, which increases system performance in following write accesses. With TRIM Support data scrap can be deleted in advance, which otherwise would slow down future write operations to the involved blocks.

Write Amplification Factor
WAF reduction

The WAF (write amplification factor) for MLC-based products is reduced by combining a paged based FW block management with a powerful card architecture and configuration settings.

Wear leveling
Wear leveling

Sophisticated Wear Leveling and Bad Block Management ensure that Flash cells are sparingly and equally used in order to prolong life time of the device.

Wide temperature support
Wide temperature support

Swissbit‘s embedded memory and storage solutions are designed and approved for reliable operation over a wide temperature range. The products are verified at temperature corners and prestressed with a burn-in operating functional test (Test During Burn In – TDBI).