Daten zuverlässig speichern und schützen
Als vertrauenswürdiger Partner ermöglicht Swissbit eine digitale und vernetzte Welt, in der Daten zuverlässig gespeichert und geschützt werden. Swissbit entwickelt und produziert industrietaugliche Speicher- und Security-Produkte „Made in Germany“ mit höchster Zuverlässigkeit, Langzeitverfügbarkeit, kundenspezifischer Optimierung und geringen Gesamtkosten.

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Neuigkeiten / Presse
28/02/2023
Swissbit auf dem CloudFest 2023
Swissbit zeigt Optimierung von SSDs für Datacenter-Anwendungsprofile
Zum ersten Mal nimmt Swissbit an der weltweit führenden Veranstaltung der Hosting- und Cloud-Branche teil und zeigt am Stand H17 seine Lösungen für Datacenter-Anwendungen. Im Zentrum steht die für Anwendungsprofile von Rechenzentren entwickelte SSD-Serie N4200. Auf dem CloudFest im Europa-Park in Rust visualisiert Swissbit den Effizienzgewinn durch anwendungsoptimierte SSDs anhand einer Demo. Diese wurde mit Unterstützung des Schweizer Cloud-Service-Providers Infomaniak realisiert, der bereits auf die SSDs von Swissbit setzt.
TechNotes
03/02/2023
SD Memory Card Design-in
Swissbit ist seit vielen Jahren einer der führenden Anbieter von SD-Memory-Karten für den industriellen Einsatz sowie für die Automobilindustrie. Aus dieser Erfahrung ist diese TechNote entstanden.
Der SD Memory Card Design-in-Guide fokussiert sich auf die häufigsten Probleme, die bei der Integration eines SD-Memory-Interfaces auftreten können und soll als Unterstützung für die Vermeidung eben dieser Probleme dienen.
01/03/2022
Power Failure Testing
Ein plötzlicher Stromausfall kann bei Flash-Medien zu verschiedenen Problemen führen, die im schlimmsten Fall einen Totalausfall zur Folge haben. Abhilfe schaffen Speichermedien, die sämtliche Daten im Cache noch auf den Flash schreiben können, zu erkennen am Zusatz PLP (Power Loss Protection).
Doch wie lässt sich im Rahmen der Produktqualifizierung die Robustheit gegen plötzliche Stromausfälle effektiv testen? Unsere neueste TechNote gibt einen detaillierten Einblick und hält zudem eine Anleitung für den Bau einer eigenen Test-Hardware bereit.
25/01/2022
Comparing Specifications
Ob ein Flash-Speichermedium prinzipiell für den beabsichtigten Einsatzzweck geeignet ist, lässt sich vorab anhand des Datenblatts ermitteln. Je nach Hersteller kommen jedoch unterschiedliche Testmethoden zur Anwendung, wodurch die resultierenden Werte nicht immer leicht mit Produkten anderer Hersteller vergleichbar sind.
Die typischen Methoden, Programme und Begriffe, die für solche Messungen verwendet werden, werden in dieser TechNote näher erläutert, um die Charakteristika verschiedener SSDs besser vergleichen und mit dem Einsatzzweck abgleichen zu können.
27/07/2021
NAND Flash Endurance Testing
Typische Einsatzszenarien für NAND-Flash gehen von einer Nutzungsdauer von 3–5 Jahren aus und teilweise auch deutlich darüber hinaus. Entsprechend wird der einzusetzende Flash-Typ (SLC, pSLC, MLC, TLC, QLC) ausgewählt, der die nötige „Endurance“, also die Lebensdauer, aufweist.
Soll im Zuge der Qualifikation eines NAND-Flash-Speichers für ein Projekt auch die spezifizierte Endurance überprüft werden, so hat die Alterungsgeschwindigkeit einen erheblichen Einfluss auf das Ergebnis.
23/12/2019
Bad Blocks
Das Vorhandensein von Factory-Bad-Blocks in NAND-Flash ist ebenso technologiebedingt, wie das Auftreten weiterer Bad-Blocks während der Lebensdauer. Beides stellt kein (negatives) Qualitätsmerkmal dar.
Bei dem Auftreten von Grown-Bad-Blocks während der Lebensdauer ist jedoch die korrekte Behandlung dieser Ereignisse durch die Firmware entscheidend, um die neuen Daten wie auch die bereits gespeicherten Daten solcher Blöcke nicht zu verlieren.
16/12/2019
Performance tests
Zum Vergleich von Geschwindigkeitsangaben in Datenblättern von NAND-Flash-Speichermedien müssen die Testbedingungen bekannt und identisch sein. Wurde die Messung nicht wiederholt gestartet, oder erstreckte sie sich nicht auf den gesamten logischen Adressraum, so kann die angegebene Geschwindigkeit deutlich über der real erreichbaren Geschwindigkeit liegen.